SGW X-4A显微熔点仪

SGW X-4A显微熔点仪

单目 熔点测量范围:室温至320℃ 最小读数:0.1℃ 测量重复性:±1℃(在<200℃时) ±2℃(在200~300℃时)

SGW X-4A显微熔点仪商品说明

应用范围:应用范围:测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。

性能指标

熔点测量范围:室温**320℃

**小读数:0.1℃

测量重复性:±1℃(在<200℃时)
                       ±2℃(在200~300℃时)

光学放大倍数:目镜10X;物境4X